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Erfolgreiche Teilnahme an der Fachmesse Control 2009
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Auf der diesjährigen Internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung CONTROL 2009 vom 05.-08.05.2009 in Stuttgart waren wir mit Exponaten zur berührungslosen 3-D-Oberflächenmesstechnik mittels Weißlichtinter-ferometrie (SmartWLI) vertreten. Auf der Sonderschau "Berührungslose Messtechnik" konnten wir erfolgreich unsere Produkte smartWLI-microscope, smartWLI-OEM vorstellen. Erstmals wurde auch unser neustes Produkt der smartWLI-portable der Öffentlichkeit präsentiert. |
Wir bedanken uns bei all unseren Besuchern für Ihr Interesse und die anregenden Gespräche.
